9 Ergebnisse
Spectroscopic Ellipsometer / Spektralellipsometer
Hersteller: SENTECH GmbH Modell: SE 850 Einrichtung: Micro Materials Center
X-Ray Photoelectron Spectroscope (XPS) / Photoelektronenspektroskop
Hersteller: PREVAC / VG Scienta Modell: PREVAC XPS system with VG Scienta EW 3000 analyser Einrichtung: Micro Materials Center
Nanotom® X-Ray Computer Tomography System (XCT)
Hersteller: GE Phoenix Modell: Nanotom® 180 NF Einrichtung: Micro Materials Center
Atomic Force Microscope (AFM) / Atomkraftmikroskop
Hersteller: Digital Instruments/Veeco Metrology (today Bruker Corp.) Modell: NanoScope Dimension 3000 Einrichtung: Micro Materials Center
Laser Scanning Mikroskop
Hersteller: Carl Zeiss Microscopy GmbH Modell: LSM 5 Exciter Einrichtung: Micro Materials Center
Cross Beam Scanning Electron Microscope with Focused Ion Beam (SEM/FIB - REM/FIB)
Hersteller: Carl Zeiss Microscopy GmbH Modell: AURIGA ® 60 Einrichtung: Micro Materials Center
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM / FE REM Rasterelektronenmikroskop)
Hersteller: Carl Zeiss AG Modell: SUPRA® 60 Einrichtung: Micro Materials Center
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