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Geräte — Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme (ENAS)

Fraunhofer Institute for Electronic Nano Systems (ENAS)
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9 Ergebnisse

 

Spectroscopic Ellipsometer / Spektralellipsometer

Hersteller: SENTECH GmbH
Modell: SE 850
Einrichtung: Micro Materials Center

 

X-Ray Photoelectron Spectroscope (XPS) / Photoelektronenspektroskop

Hersteller: PREVAC / VG Scienta
Modell: PREVAC XPS system with VG Scienta EW 3000 analyser
Einrichtung: Micro Materials Center

 

Raman Spectroscope

Hersteller: Renishaw plc.
Modell: Reflex
Einrichtung: Micro Materials Center

 

Nano Indenter

Hersteller: Agilent Technologies
Modell: G200
Einrichtung: Micro Materials Center

 

Nanotom® X-Ray Computer Tomography System (XCT)

Hersteller: GE Phoenix
Modell: Nanotom® 180 NF
Einrichtung: Micro Materials Center

 

Atomic Force Microscope (AFM) / Atomkraftmikroskop

Hersteller: Digital Instruments/Veeco Metrology (today Bruker Corp.)
Modell: NanoScope Dimension 3000
Einrichtung: Micro Materials Center

 

Laser Scanning Mikroskop

Hersteller: Carl Zeiss Microscopy GmbH
Modell: LSM 5 Exciter
Einrichtung: Micro Materials Center

 

Cross Beam Scanning Electron Microscope with Focused Ion Beam (SEM/FIB - REM/FIB)

Hersteller: Carl Zeiss Microscopy GmbH
Modell: AURIGA ® 60
Einrichtung: Micro Materials Center

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