Geräte — Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik (IWS)

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88 Ergebnisse

Quelle: Fraunhofer IWS

Biaxialer Torsions-Axial-Prüfstand

Hersteller: INOVA
Modell: Torsions-Axial-Prüfsystem
Einrichtung: Kompetenzfeld Werkstoffcharakterisierung und -prüfung

INOVA Torsions - Axial - Prüfsystem

Quelle: Fraunhofer IWS

Quelle: Fraunhofer IWS

Quelle: Fraunhofer IWS

Analytisches Zweistrahlsystem Focused Ion Beam und Rasterelektronenmikroskop - JEOL JIB-4610F

Quelle: Fraunhofer IWS

Analytisches Transmissionselektronenmikroskop 200kV - JEOL JEM-2100Plus

Quelle: Fraunhofer IWS

Hersteller: JEOL GmbH
Modell: JSM-7800F Prime (SEM) FE REM
Einrichtung: Kompetenzfeld Werkstoffcharakterisierung und -prüfung

Ultrahochauflösendes analytisches Feldemissionsrasterelektronenmikroskop

Quelle: Fraunhofer IWS

Analytisches Rasterelektronenmikroskop mit „Low-Vacuum“-Betrieb

Hersteller: NanoSight Ltd (now: Malvern Instruments Ltd)
Modell: LM10-HS
Einrichtung: Oberflächenfunktionalisierung

Hersteller: Anton Paar
Modell: Tribometer T-PTD 200 / Rheometer MRC 502
Einrichtung: Professur für laserbasierte Methoden der großflächigen Oberflächenstrukturierung

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