Hydraulischer Universalprüfstand ±100 kN

Hersteller: Instron
Modell: 8501
Einrichtung: Kompetenzfeld Werkstoffcharakterisierung und -prüfung

Hydraulischer Universalprüfstand ±100 kN - Instron 8501

Biaxialer Torsions-Axial-Prüfstand

Hersteller: INOVA
Modell: Torsions-Axial-Prüfsystem
Einrichtung: Kompetenzfeld Werkstoffcharakterisierung und -prüfung

INOVA Torsions - Axial - Prüfsystem

Metallographielabor

Einrichtung: Kompetenzfeld Werkstoffcharakterisierung und -prüfung

Elektronenmikroskopisches Präparationslabor

Einrichtung: Kompetenzfeld Werkstoffcharakterisierung und -prüfung

Analytisches Zweistrahlsystem Focused Ion Beam und Rasterelektronenmikroskop

Hersteller: JEOL
Modell: JIB-4610F
Einrichtung: Kompetenzfeld Werkstoffcharakterisierung und -prüfung

Analytisches Zweistrahlsystem Focused Ion Beam und Rasterelektronenmikroskop - JEOL JIB-4610F

Analytisches Transmissionselektronenmikroskop 200kV

Hersteller: JEOL
Modell: JEM-2100Plus
Einrichtung: Kompetenzfeld Werkstoffcharakterisierung und -prüfung

Analytisches Transmissionselektronenmikroskop 200kV - JEOL JEM-2100Plus

Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM)

Hersteller: JEOL GmbH
Modell: JSM-7800F Prime (SEM) FE REM
Einrichtung: Kompetenzfeld Werkstoffcharakterisierung und -prüfung

Ultrahochauflösendes analytisches Feldemissionsrasterelektronenmikroskop

Raster­elektronen­mikroskop (REM)

Hersteller: JEOL GmbH
Modell: JSM-6610LV
Einrichtung: Kompetenzfeld Werkstoffcharakterisierung und -prüfung

Analytisches Rasterelektronenmikroskop mit „Low-Vacuum“-Betrieb

Nanoparticle Tracking Analysis (NTA) / Nanopartikelmesstechnik

Hersteller: NanoSight Ltd (now: Malvern Instruments Ltd)
Modell: LM10-HS
Einrichtung: Oberflächenfunktionalisierung

VIS/IR -DLIP μFAB System

Hersteller: Designed by TU Dresden, LMO
Einrichtung: Professur für laserbasierte Methoden der großflächigen Oberflächenstrukturierung