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Profil anzeigen: Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik (IWS) Geräte — Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik (IWS)
84 Ergebnisse
Hydraulischer Universalprüfstand ±100 kN
Hersteller: Instron Modell: 8501 Einrichtung: Kompetenzfeld Werkstoffcharakterisierung und -prüfung
Hydraulischer Universalprüfstand ±100 kN - Instron 8501
Biaxialer Torsions-Axial-Prüfstand
Hersteller: INOVA Modell: Torsions-Axial-Prüfsystem Einrichtung: Kompetenzfeld Werkstoffcharakterisierung und -prüfung
INOVA Torsions - Axial - Prüfsystem
Analytisches Zweistrahlsystem Focused Ion Beam und Rasterelektronenmikroskop
Hersteller: JEOL Modell: JIB-4610F Einrichtung: Kompetenzfeld Werkstoffcharakterisierung und -prüfung
Analytisches Zweistrahlsystem Focused Ion Beam und Rasterelektronenmikroskop - JEOL JIB-4610F
Analytisches Transmissionselektronenmikroskop 200kV
Hersteller: JEOL Modell: JEM-2100Plus Einrichtung: Kompetenzfeld Werkstoffcharakterisierung und -prüfung
Analytisches Transmissionselektronenmikroskop 200kV - JEOL JEM-2100Plus
Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM)
Hersteller: JEOL GmbH Modell: JSM-7800F Prime (SEM) FE REM Einrichtung: Kompetenzfeld Werkstoffcharakterisierung und -prüfung
Ultrahochauflösendes analytisches Feldemissionsrasterelektronenmikroskop
Rasterelektronenmikroskop (REM)
Hersteller: JEOL GmbH Modell: JSM-6610LV Einrichtung: Kompetenzfeld Werkstoffcharakterisierung und -prüfung
Analytisches Rasterelektronenmikroskop mit „Low-Vacuum“-Betrieb
Nanoparticle Tracking Analysis (NTA) / Nanopartikelmesstechnik
Hersteller: NanoSight Ltd (now: Malvern Instruments Ltd) Modell: LM10-HS Einrichtung: Oberflächenfunktionalisierung
VIS/IR -DLIP μFAB System
Hersteller: Designed by TU Dresden, LMO Einrichtung: Professur für laserbasierte Fertigung
