45 Ergebnisse
Defektmessungen
Hersteller: Applied Materials; Leica; Semilab Modell: Compass Pro; INS3000; FAaST 230 Einrichtung: 200 mm MEMS-Reinraum
Weisslichtinterferometer
Hersteller: Veeco Instruments Modell: NT8000 Einrichtung: 200 mm MEMS-Reinraum
Rasterkraftmikroskopie (AFM)
Hersteller: Veeco; Park Systems Modell: Nanoscope D3100; NX-Wafer Einrichtung: 200 mm MEMS-Reinraum
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM)
Hersteller: Applied Materials Modell: Verity Lite Einrichtung: 200 mm MEMS-Reinraum
Rasterelektronenmikroskop (FE REM)
Hersteller: JEOL GmbH; FEI Modell: JSM-6700F; Helios Nanolab 660 Einrichtung: 200 mm MEMS-Reinraum
Filmdickenmessung
Hersteller: Screen; Olympian Modell: Lambda Ace RE-3300; n & k Einrichtung: 200 mm MEMS-Reinraum


