45 Ergebnisse
Defektmessungen
Hersteller: Applied Materials; Leica; Semilab
Modell: Compass Pro; INS3000; FAaST 230
Einrichtung: 200 mm MEMS-Reinraum
Weisslichtinterferometer
Hersteller: Veeco Instruments
Modell: NT8000
Einrichtung: 200 mm MEMS-Reinraum
Rasterkraftmikroskopie (AFM)
Hersteller: Veeco; Park Systems
Modell: Nanoscope D3100; NX-Wafer
Einrichtung: 200 mm MEMS-Reinraum
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM)
Hersteller: Applied Materials
Modell: Verity Lite
Einrichtung: 200 mm MEMS-Reinraum
Rasterelektronenmikroskop (FE REM)
Hersteller: JEOL GmbH; FEI
Modell: JSM-6700F; Helios Nanolab 660
Einrichtung: 200 mm MEMS-Reinraum
Filmdickenmessung
Hersteller: Screen; Olympian
Modell: Lambda Ace RE-3300; n & k
Einrichtung: 200 mm MEMS-Reinraum