59 Ergebnisse
Rasterkraftmikroskopie (AFM)
Hersteller: Veeco; Park Systems
Modell: Nanoscope D3100; NX-Wafer
Einrichtung: 200 mm MEMS-Reinraum
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM)
Hersteller: Applied Materials
Modell: Verity Lite
Einrichtung: 200 mm MEMS-Reinraum
Rasterelektronenmikroskop (FE REM)
Hersteller: JEOL GmbH; FEI
Modell: JSM-6700F; Helios Nanolab 660
Einrichtung: 200 mm MEMS-Reinraum
Filmdickenmessung
Hersteller: Screen; Olympian
Modell: Lambda Ace RE-3300; n & k
Einrichtung: 200 mm MEMS-Reinraum
Lasermarkierung von verschiedenen Material
Hersteller: Keysight
Modell: MD-U1000
Einrichtung: 200 mm MEMS-Reinraum
Wafer Packaging
Hersteller: Häcker Automation; Finetech; Ficontec
Modell: VICO Xtec / Laser; FEMTO; IL2000
Einrichtung: 200 mm MEMS-Reinraum