59 Ergebnisse
Rasterkraftmikroskopie (AFM)
Hersteller: Veeco; Park Systems Modell: Nanoscope D3100; NX-Wafer Einrichtung: 200 mm MEMS-Reinraum
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM)
Hersteller: Applied Materials Modell: Verity Lite Einrichtung: 200 mm MEMS-Reinraum
Rasterelektronenmikroskop (FE REM)
Hersteller: JEOL GmbH; FEI Modell: JSM-6700F; Helios Nanolab 660 Einrichtung: 200 mm MEMS-Reinraum
Filmdickenmessung
Hersteller: Screen; Olympian Modell: Lambda Ace RE-3300; n & k Einrichtung: 200 mm MEMS-Reinraum
Lasermarkierung von verschiedenen Material
Hersteller: Keysight Modell: MD-U1000 Einrichtung: 200 mm MEMS-Reinraum
Wafer Packaging
Hersteller: Häcker Automation; Finetech; Ficontec Modell: VICO Xtec / Laser; FEMTO; IL2000 Einrichtung: 200 mm MEMS-Reinraum


