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Profil anzeigen: Center Nanoelektronische Technologien (CNT)

Geräte — Center Nanoelektronische Technologien (CNT)

Fraunhofer Institute for Photonic Microsystems
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11 Ergebnisse

 
Confocal Raman Microscope Renishaw inVia (Quelle: www.renishaw.com)

Confocal Raman Microscope

Hersteller: Renishaw plc.
Modell: inVia
Einrichtung: Interconnects

 
FE SEM Hitachi S5000 (Quelle: www.fabsurplus.com)

Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM / FE REM Rasterelektronenmikroskop)

Hersteller: Hitachi High Technologies
Modell: S-5000
Einrichtung: Analytics

 
ION-TOF TOF.SIMS 300 R (Quelle: www.iontof.com)

TOF-SIMS

Hersteller: ION-TOF GmbH
Modell: TOF.SIMS 300R
Einrichtung: Analytics

 
Varian FT-IR Spectrometer 640-IR (Quelle: www.med.monash.edu)

Fourier Transform Infra Red Spectrometer (FT-IR)

Hersteller: Varian Inc. (now: Agilent Technologies)
Modell: 640-IR
Einrichtung: High-k Devices

 
FEI Strata 400 STEM (Quelle: www.ims.uconn.edu)

DualBeam Field Emission Scanning Electron Microscope with Focused Ion Beam (FE SEM/ FIB)

Hersteller: FEI Company
Modell: Strata 400 STEM
Einrichtung: Analytics

 
Ellipsometer Porosimeter Semilab EP5 (Quelle: www.azom.com)

Ellipsometer Porosimeter (EP)

Hersteller: Semilab Co. Ltd.
Modell: EP5
Einrichtung: Interconnects

 
CAMECA LEAP 4000 Si (Quelle: www.cameca.com)

Atom Probe Tomography Microscope (ATP)

Hersteller: Imago Scientific Instruments (now: Ametek/ CAMECA)
Modell: LEAP 3000X S
Einrichtung: Analytics

 
FEI Tecnai F20 XT/STEM (Quelle: www.fei.com)

Transmission Electron Microscope (TEM)

Hersteller: FEI Company
Modell: Tecnai F20 XT/STEM
Einrichtung: Analytics

 
Bruker XRD D8 DISCOVER (Quelle: www.bruker.com)

X-Ray Diffraction System (XRD/XRR)

Hersteller: Bruker Corporation
Modell: D8 DISCOVER
Einrichtung: Analytics

 
XPS Thermo Fisher Scientific Theta 300 (Quelle: www.thermoscientific.com)

X-Ray Photoelectron Spectroscope (XPS)

Hersteller: Thermo Fisher Scientific Inc.
Modell: Theta 300i
Einrichtung: Analytics

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