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Lichtmikroskop
Hersteller: Zeiss Modell: Zeiss Axio Imager KMAT und Axio Imager.A1m Einrichtung: Analytik und Metrologie
Fokussierter Ionenstrahl
Hersteller: FEI Company Modell: Strata 400 Einrichtung: Analytik und Metrologie
Rasterkraftmikroskopie (AFM)
Hersteller: Oxford Instruments Modell: Asylum Research Cypher Einrichtung: Analytik und Metrologie


