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Lichtmikroskop
Hersteller: Zeiss
Modell: Zeiss Axio Imager KMAT und Axio Imager.A1m
Einrichtung: Analytik und Metrologie
Fokussierter Ionenstrahl
Hersteller: FEI Company
Modell: Strata 400
Einrichtung: Analytik und Metrologie
Rasterkraftmikroskopie (AFM)
Hersteller: Oxford Instruments
Modell: Asylum Research Cypher
Einrichtung: Analytik und Metrologie