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Geräte — Center Nanoelektronische Technologien (CNT)

Fraunhofer Institute for Photonic Microsystems
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11 Ergebnisse

 

Confocal Raman Microscope

Hersteller: Renishaw plc.
Modell: inVia
Einrichtung: Interconnects

 

Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM / FE REM Rasterelektronenmikroskop)

Hersteller: Hitachi High Technologies
Modell: S-5000
Einrichtung: Analytics

 

TOF-SIMS

Hersteller: ION-TOF GmbH
Modell: TOF.SIMS 300R
Einrichtung: Analytics

 

Fourier Transform Infra Red Spectrometer (FT-IR)

Hersteller: Varian Inc. (now: Agilent Technologies)
Modell: 640-IR
Einrichtung: High-k Devices

 

Ellipsometer Porosimeter (EP)

Hersteller: Semilab Co. Ltd.
Modell: EP5
Einrichtung: Interconnects

 

Atom Probe Tomography Microscope (ATP)

Hersteller: Imago Scientific Instruments (now: Ametek/ CAMECA)
Modell: LEAP 3000X S
Einrichtung: Analytics

 

Transmission Electron Microscope (TEM)

Hersteller: FEI Company
Modell: Tecnai F20 XT/STEM
Einrichtung: Analytics

 

X-Ray Diffraction System (XRD/XRR)

Hersteller: Bruker Corporation
Modell: D8 DISCOVER
Einrichtung: Analytics

 

X-Ray Photoelectron Spectroscope (XPS)

Hersteller: Thermo Fisher Scientific Inc.
Modell: Theta 300i
Einrichtung: Analytics

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