11 Ergebnisse
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM / FE REM Rasterelektronenmikroskop)
Hersteller: Hitachi High Technologies
Modell: S-5000
Einrichtung: Analytics
Fourier Transform Infra Red Spectrometer (FT-IR)
Hersteller: Varian Inc. (now: Agilent Technologies)
Modell: 640-IR
Einrichtung: High-k Devices
DualBeam Field Emission Scanning Electron Microscope with Focused Ion Beam (FE SEM/ FIB)
Hersteller: FEI Company
Modell: Strata 400 STEM
Einrichtung: Analytics
Atom Probe Tomography Microscope (ATP)
Hersteller: Imago Scientific Instruments (now: Ametek/ CAMECA)
Modell: LEAP 3000X S
Einrichtung: Analytics
Transmission Electron Microscope (TEM)
Hersteller: FEI Company
Modell: Tecnai F20 XT/STEM
Einrichtung: Analytics
X-Ray Diffraction System (XRD/XRR)
Hersteller: Bruker Corporation
Modell: D8 DISCOVER
Einrichtung: Analytics
X-Ray Photoelectron Spectroscope (XPS)
Hersteller: Thermo Fisher Scientific Inc.
Modell: Theta 300i
Einrichtung: Analytics